PCT試驗(yàn)箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。PCT試驗(yàn)箱的主要功能是壓力是對(duì)應(yīng)溫度飽和壓力顯示，濕度也是對(duì)應(yīng)該溫度條件下的飽和蒸汽壓力。也就是說(shuō)，試驗(yàn)溫度隨用戶試驗(yàn)條件確定的同時(shí)也就確定了飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度，一般濕度固定值R.H，溫度范圍在100℃-132℃，壓力范圍在0.0Kg/cm2-2.0Kg/cm2控制點(diǎn)壓力。

　　PCT試驗(yàn)箱的用途：

　　1.PCT試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛的溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架的接口滲入封裝體；

　　2.廣泛應(yīng)用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品的密封性能的檢測(cè)，測(cè)試其制品的耐壓性，氣密性。

　　HAST老化試驗(yàn)箱的主要功能則是溫度、壓力、濕度隨用戶試驗(yàn)條件隨意設(shè)定，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即為非飽和控制。也就是說(shuō)，試驗(yàn)溫度、壓力、濕度隨用戶試驗(yàn)條件確定隨意設(shè)定。此時(shí)會(huì)存在一個(gè)問(wèn)題：非飽和狀態(tài)下的濕度的準(zhǔn)確性的問(wèn)題，濕度檢測(cè)裝置是根據(jù)試驗(yàn)箱內(nèi)真實(shí)環(huán)境通過(guò)干濕球?qū)Ρ瘸鰜?lái)顯示和控制的，不是通過(guò)換算關(guān)系顯示出來(lái)并控制，其準(zhǔn)確性得以保障。HAST老化試驗(yàn)箱的濕度、溫度及壓力范圍參數(shù)可在任意區(qū)間設(shè)定調(diào)節(jié)。

　　對(duì)比PCT試驗(yàn)箱與HAST老化試驗(yàn)箱的“PK”就是這些，HAST老化試驗(yàn)箱可以進(jìn)行飽和試驗(yàn)（STD）和非飽和試驗(yàn)（HUM）兩種試驗(yàn)?zāi)Ｊ剑赏ㄟ^(guò)試驗(yàn)條件隨意設(shè)定，對(duì)于所進(jìn)行的加速老化測(cè)試所有條件*可以滿足。