HAST老化試驗(yàn)箱廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此HAST老化試驗(yàn)箱用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。用較少的時(shí)間就可完成對(duì)產(chǎn)品的濕度的測(cè)試。在100℃以上的溫度下，通過(guò)提高和增加壓力，可以模擬正常濕度測(cè)試，同時(shí)保持相同的故障機(jī)制。幾小時(shí)或幾天就能通過(guò)產(chǎn)品的老化測(cè)試，大大節(jié)省了產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期。

　　如今HAST老化試驗(yàn)箱可依客戶需求定制非標(biāo)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，在環(huán)境可靠度測(cè)試設(shè)備產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域累積豐富的產(chǎn)品研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，充分掌握關(guān)鍵零組件的開(kāi)發(fā)，對(duì)于材料應(yīng)用、制程技術(shù)、檢測(cè)設(shè)備等能力，不斷自我挑戰(zhàn)追求良好成本效益，發(fā)揮制造優(yōu)勢(shì)及系統(tǒng)整合服務(wù)。憑借現(xiàn)代化企業(yè)管理，迎合環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備發(fā)展前沿，將安全實(shí)用、節(jié)能環(huán)保完美糅合，不斷突破技術(shù)壁壘。