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液體溫度沖擊試驗箱

液體溫度沖擊試驗箱

產(chǎn)品型號: ZT-CTH-27C

所屬分類:液槽冷熱沖擊試驗箱

產(chǎn)品時間:2022-10-13

簡要描述:液體溫度沖擊試驗箱適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗(沖擊)。

詳細說明:

液體溫度沖擊試驗箱用途:

適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗(沖擊),適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質,從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.


液體溫度沖擊試驗箱滿足標準:

GJB150.5-86溫度沖擊試驗

GJB360.7-87溫度沖擊試驗

GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法

GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法

IEC68-2-14 試驗N:溫度變化

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

MIL-STD-202F美軍標準,電子及電氣試驗方法

MIL-STD-883E美軍標準,集成電路失效分析方法

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主要參數(shù)

n溫度暴露范圍:+60℃ +150℃/-65℃ 0℃

n測試時間 ≥10min

n溫度轉換時間:≥30S

n測試方式:試樣放入不同溫度的液體介質中

型號

ZT-CTH-27C

ZT-CTH-56C

模式

浸漬在液體介質浴中,通過樣品籃的移動到達低溫或高溫槽內(nèi)

試驗樣品尺寸(mm)

130×160×130  【W*H*D】

160×160×220  【W(wǎng)*H*D】

預冷溫度范圍

-70℃~0℃

預熱溫度范圍

+60℃~+200℃

溫度沖擊范圍

-40℃~+150℃/-65℃~+150℃

測試時間

≥10 mins

≥10 mins

轉換移動時間

≤30s

溫度偏差

±1.0℃

溫度波動度

±0.5℃

溫度波動度

±1.0℃

使用電源

AC 3¢5W 380V  60/50Hz





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